电特性 超过十个数量级

AFM Electrical characterization

ResiScopeTM II
原子力显微镜的电特性测量

ResiScopeTM II是一个具有高灵敏度和高分辨率的独特系统,能够测量的电阻范围超过10个数量级。它可以与多种动态力模式相结合如MFM/EFM或单通KFM,在同一扫描区域内测量多种样品表征。测量方法是通过在样品和导电的AFM探针之间施加一个直流偏置(针尖接虚拟地)。针尖是以接触模式扫描,利用激光偏转信号作为AFM反馈。作为一个独立的测量功能,ResiScopeTM II是通过高性能的放大器(HPA)来测量样品电阻值的。样品是由探针以接触模式扫描,利用激光偏转信号作为AFM反馈。

各种应用

 柔软样品  可再生能源   半导体   材料

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